TEM测晶面间距能否确定材料？

通过TEM图像的FFT精确测量包覆层的晶面间距和夹角，并与晶体学数据库比对，是鉴定包覆材料物相的有效方法。但必须意识到该方法在薄层分析中的局限性，并务必与元素分析（EDS/EELS）紧密结合，才能得出令人信服的结论。
FFT是确定包覆层晶体结构的有力工具，但通常不能作为“唯一的”鉴定手段。为了更可靠地确定包覆材料，强烈建议你采用 “多模态联用” 的策略：
TEM-FFT + SAED：除了局部FFT，可以尝试用选区电子衍射（SAED）对包覆层区域（如果足够大）单独衍射，获得更“干净”的衍射花样。
TEM-FFT + STEM-EDS/EELS线扫/面扫：在STEM模式下，对截面样品进行线扫，精确确认各元素（特别是包覆层特有的元素）在界面处的分布，明确包覆层的化学边界。在包覆层区域进行面扫，确定其元素组成和分布均匀性。将FFT得到的结构信息与EDS/EELS得到的化学信息一一对应，这是最强有力的证据。
结合体相表征：尽管XRD没有显示包覆层的峰（可能因为太薄或非晶），但拉曼光谱、XPS等对表面敏感的技术，可以提供包覆层的化学键和物相信息，与TEM结果相互印证。